>>所属分类 >> 德国菲希尔系列   

菲希尔X射线镀层测厚仪XDV-u

标签: 菲希尔X射线镀层测厚仪XDV-u

顶[0] 发表评论(0) 编辑词条
菲希尔X射线镀层测厚仪XDV-u菲希尔X射线镀层测厚仪XDV-u

  一款应用广泛的能量色三散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,适用于无损分析和测量极微小部件机构上镀层的厚度,其中XDV-u-PCB是专为自动测量和分析印制电路板上微小部件及结构上镀层厚度和成分而设计开发。

  典型的应用领域有:

1、测量极微小部件结构,如印制线路板、插接件及引线框架等;

2、分析超薄镀层,如小于0.1um的AU和PD镀层;

3、测量电子工业或半导体工业中的功能型镀层;

4、分析复杂的多镀层系统;

5、全自动测量,如在质量控制领域。

技术参数:

项目

规格

品牌

菲希尔

可分析镀层数

 可同时测量23层镀层,同时分析24种元素,进行厚度测量和材料分析,从Al到U

计算方法

采用基本参数法(内置纯元素频谱库),没有标准片也可以测量

底材影响 

无损测量镀层时不受底材影响

独有特点 

能够显示mq值(测量品质显示)

放大倍数

最高达到1080X (光学变焦: 30X,90X,270X;数字变焦: 1X,2X,3X,4X)

可用样品平台面积

 宽x深:370mm x 320mm,开槽式设计,可测量大面积线路板

样品最大重量 

5kg

样品最大高度

135mm

测量精度 

仪器校正后,测量多镀层标准片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um ,精度:测量平均值与标准片标

示值之差:(Au)≤5%、(Pd)≤5%、(Ni)≤5% (测量20次,测量时间60s)。

测量稳定性

校正后,测量多镀层标准片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um,各膜厚的COV:(Au)≤3%、(Pd )≤5%、(Ni )≤3%(测量20次,测量时间60s)

重 量

135Kg

附件列表


您所在的用户组无法下载或查看附件

→如果您认为本词条还有待完善,请 编辑词条

上一篇联系我们 下一篇铝基板激光切割机

词条内容仅供参考,如果您需要解决具体问题
(尤其在法律、医学等领域),建议您咨询相关领域专业人士。
0

收藏到:  

词条信息

vip
vip
超级管理员
最近编辑者 发短消息   

相关词条